SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

제조업체

Texas Instruments

제품 카테고리

논리 - 특수 논리

설명

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

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명세서

  • 시리즈
    74BCT
  • 패키지
    Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel®
  • 부품 상태
    Active
  • 논리 유형
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • 전원 전압
    4.5V ~ 5.5V
  • 비트 수
    8
  • 작동 온도
    0°C ~ 70°C
  • 장착 유형
    Surface Mount
  • 패키지/케이스
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • 공급업체 장치 패키지
    24-SOIC

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