SN74LVTH182512DGGR

SN74LVTH182512DGGR

제조업체

Texas Instruments

제품 카테고리

논리 - 특수 논리

설명

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

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명세서

  • 시리즈
    74LVTH
  • 패키지
    Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel®
  • 부품 상태
    Active
  • 논리 유형
    ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • 전원 전압
    2.7V ~ 3.6V
  • 비트 수
    18
  • 작동 온도
    -40°C ~ 85°C
  • 장착 유형
    Surface Mount
  • 패키지/케이스
    64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
  • 공급업체 장치 패키지
    64-TSSOP

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