SN74LVTH18502APM

SN74LVTH18502APM

제조업체

Texas Instruments

제품 카테고리

논리 - 특수 논리

설명

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

RFQ 이메일: [email protected] or 온라인 문의

명세서

  • 시리즈
    74LVTH
  • 패키지
    Tray
  • 부품 상태
    Active
  • 논리 유형
    ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • 전원 전압
    2.7V ~ 3.6V
  • 비트 수
    18
  • 작동 온도
    -40°C ~ 85°C
  • 장착 유형
    Surface Mount
  • 패키지/케이스
    64-LQFP
  • 공급업체 장치 패키지
    64-LQFP (10x10)

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재고 5260
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