SN74ABT18640DGGR

SN74ABT18640DGGR

제조업체

Texas Instruments

제품 카테고리

논리 - 특수 논리

설명

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

RFQ 이메일: [email protected] or 온라인 문의

명세서

  • 시리즈
    74ABT
  • 패키지
    Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel®
  • 부품 상태
    Obsolete
  • 논리 유형
    Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
  • 전원 전압
    4.5V ~ 5.5V
  • 비트 수
    18
  • 작동 온도
    -40°C ~ 85°C
  • 장착 유형
    Surface Mount
  • 패키지/케이스
    56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
  • 공급업체 장치 패키지
    56-TSSOP

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