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| 부품 번호 | 가격 | 재고 | 제조업체 | 설명 |
|---|---|---|---|---|
TOP100I064/200G
|
재고: 21662
0.96000
유닛 당
|
Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | |
SLP2
|
재고: 10002
3.26040
유닛 당
|
TPI (Test Products International) | SET PROBE TIPS LONG 62MM=TIP | |
PACC-CD008
|
재고: 11029
268.00000
유닛 당
|
Teledyne LeCroy | BENDING PIN GND 2/PC | |
P25-0123
|
재고: 12742
2.53000
유닛 당
|
Harwin | 2.54MM CENTER TWO PART PROBE | |
A057R
|
재고: 18065
4.17620
유닛 당
|
TPI (Test Products International) | NEEDLE BACK PROBE ADAPTER RED | |
TOP100W09/200G
|
재고: 21053
0.99000
유닛 당
|
Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | |
FC-A18
|
재고: 18438
4.00000
유닛 당
|
REED Instruments | ELECTRONIC TEST PROBE SET | |
TP175
|
재고: 12530
29.99000
유닛 당
|
Amprobe | TWISTGUARDTM TEST PROBES, 2MM DI | |
AC288
|
재고: 12157
39.99000
유닛 당
|
Fluke Electronics | SUREGRIP TERMINAL BLOCK PROBE | |
TOP100H15/200G
|
재고: 20865
1.00000
유닛 당
|
Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | |
TOP075W064/200G
|
재고: 14288
1.50000
유닛 당
|
Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | |
P25-4026
|
재고: 15543
2.04740
유닛 당
|
Harwin | 2.54MM CENTER TWO PART PROBE | |
PK30X-1
|
재고: 12043
43.88000
유닛 당
|
Teledyne LeCroy | BANANA PLUG HOOK | |
CT3944-0
|
재고: 19703
5.70000
유닛 당
|
Cal Test Electronics | SPADE LUG, 3900 SERIES, BLACK | |
A036B
|
재고: 15213
11.79000
유닛 당
|
TPI (Test Products International) | FUSED PROD BLACK | |
CT3775-2
|
재고: 18788
3.80000
유닛 당
|
Cal Test Electronics | COMPACT PROBE BODY 4MM CONTACT T | |
TOP075I064/100G
|
재고: 14434
1.47000
유닛 당
|
Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | |
CT2265-4
|
재고: 17728
4.35000
유닛 당
|
Cal Test Electronics | PROBE BODY 4MM SPG TIP YELLOW | |
TOP100I064/100G
|
재고: 21676
0.96000
유닛 당
|
Chip Shine / CSRF | ICT SPRING CONTACT TEST PROBE | |
A037
|
재고: 15881
10.03000
유닛 당
|
TPI (Test Products International) | STANDARD PROD SET |